- Startpagina /
- Boeken /
- Science & Math /
- Earth Sciences /
- Geology /
- Electron Microprobe Analysis and Scanning Ele...
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
86% van de respondenten zou dit aanraden aan een vriend
€ 77
Prijsdetails
Exclusief verzend- en douanekosten ( Verzend- en douanekosten worden berekend bij het afrekenen )
*Alle artikelen worden geïmporteerd vanuit VS
QTY:
Ubuy zet zich in om uw veiligheid en privacy te beschermen. Ons geavanceerde beveiligingssysteem voor betalingen zorgt voor vertrouwelijkheid door uw gegevens tijdens verzending te versleutelen met AES (Advanced Encryption Standards) en SSL (Secure Socket Layer) protocollen. Uw betalingsgegevens zijn 100% veilig, aangezien wij uw betalingsgegevens niet delen met externe verkopers.
Koop nu, betaal later
Spoedbestelling
Gratis
retourneren*
Stevig verpakt
100% Origineel product
PCI DSS Compliance
ISO 27001 Certified
Productdetails
| Publisher | Cambridge University Press |
| Publication date | June 10, 2010 |
| Edition | 2nd |
| Language | English |
| Print length | 212 pages |
| ISBN-10 | 052114230X |
| ISBN-13 | 978-0521142304 |
| Item Weight | 12 ounces (340.2 grams) |
| Dimensions | 6.69 x 0.48 x 9.61 inches (17 x 1.2 x 24.4 cm) |
PRODUCTBESCHRIJVING
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Vragen en antwoorden van klanten
-
vraag:
Hoe kan ik Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron online winkelen bij Ubuy?
antwoord: Het is gemakkelijk om Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron online te winkelen bij Ubuy.. U hoeft alleen maar naar het product te zoeken, uw verzendmethode te kiezen tijdens het afrekenen en het op uw locatie te laten bezorgen. -
vraag:
Is Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron beschikbaar om online te winkelen in Belgium?
antwoord: Ja, bij Ubuy Belgium kun je dit product tegen een redelijke prijs kopen.. De Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron is lokaal niet beschikbaar, maar u kunt ons vertrouwen met onze expresverzendingsdiensten. -
vraag:
Hoe lang duurt het om het product te krijgen na het plaatsen van de bestelling?
antwoord: De levertijd van je bestelde product hangt af van wat je hebt besteld en de verzendmethode die je hebt gekozen.. De geschatte levertijd wordt vermeld tijdens het afrekenen, wees dus zorgeloos tijdens het winkelen.
Geology Editorial Review
**** The second edition of "Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology" has been well received by readers, particularly those in the geological sciences. Its primary strength lies in its ability to provide a clear and concise overview of Scanning Electron Microscopy (SEM) and electron microprobe techniques. Reviewers appreciate that while the book could delve deeper into the physics underpinning these methods, it remains focused on their diverse geological applications. This makes it a practical resource for both students and professional geologists alike, who may require an accessible introduction to these analytical tools without becoming overwhelmed by overly technical content. Readers have noted its readability and thoroughness, often mentioning how it effectively meets their specific needs in the field. The book is touted as an excellent overview, highlighting its functionality as a useful reference in practical settings. Some users have pointed out that it serves well as an introductory text and provides adequate background knowledge for practical application. This blend of clarity and relevance seems to resonate particularly well within the geology community, as reflected in the positive reception from those who have purchased and used the book. **
Klantbeoordelingen en -waardering
-
5 ster
100%
-
4 ster
0%
-
3 ster
0%
-
2 ster
0%
-
1 ster
0%
Beoordeel dit product
Deel uw mening met andere klanten
Voordelen
- Concise overview of SEM and microprobe techniques.
- Focused on geological applications, making it practical for geologists.
- Well-structured and easily readable.
- Provides sufficient background without overwhelming technicality.
Nadelen
- Lacks in-depth exploration of the physics behind SEM and microprobe methods.
Prijsgeschiedenis van het product
Belangrijke informatie
- Beperkingen: voor producten die internationaal worden verzonden, gelieve er rekening mee te houden dat eventuele fabrieksgaranties mogelijk niet geldig zijn; ondersteuningsopties van de fabrikant zijn mogelijk niet beschikbaar; producthandleidingen, instructies en veiligheidswaarschuwingen zijn mogelijk niet in de taal van het land van bestemming; de producten (en bijbehorende materialen) zijn mogelijk niet ontworpen in overeenstemming met de normen, specificaties en etiketteringsvereisten van het land van bestemming; en de producten zijn mogelijk niet in overeenstemming met de voltage- en andere elektriciteitsstandaarden van het land van bestemming (waardoor het gebruik van een adapter of omvormer nodig is, indien van toepassing). De ontvanger is ervoor verantwoordelijk zich ervan te verzekeren dat het product rechtmatig kan worden geïmporteerd naar het land van bestemming. Bij het bestellen bij Ubuy of diens partners geldt de ontvanger als de geregistreerde invoerder en dient zich als zodanig te houden aan alle wetten en voorschriften van het land van bestemming.
- Omdat Ubuy een wereldwijde zoekmachine is, zijn niet alle producten die op Ubuy worden vermeld ook te koop. Producten zijn onderworpen aan wetgeving inzake export en handel.
€ 77
Bestel nu en ontvang het rond Donderdag, Oktober 15
Dit product is wel in mijn land verkrijgbaar. (Klik op de knop hierboven als dit artikel wel in jouw land verkrijgbaar is. Ons team zal het controleren en aanpassen.)
QTY:
PCI DSS-compliant en ISO 27001:2022-gecertificeerd, met versleutelde betalingen en volledige kopersbescherming bij elke bestelling.
Ubuy-garantie
Ervaar zorgeloos winkelen met 100% originele producten, PCI DSS-conforme betalingsbeveiliging, ISO 27001-gecertificeerde gegevensbescherming, de snelste grensoverschrijdende levering, gratis retourneren *, en veilige verpakking bij elke bestelling.